X-射線數(shù)字成像---非晶硅平板探測(cè)器(XRD)

今天我們?cè)谶@里宣布一種新的,高分辨率的,大面積成像光電探測(cè)器陣列(XRD)：將X射線轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光，從而產(chǎn)生高質(zhì)量，高精度的圖像，而不影響所見(jiàn)到的目標(biāo)的完整性。這種128 通道光電探測(cè)器陣列在X射線成像應(yīng)用中，創(chuàng)造了空前優(yōu)質(zhì)的圖像，改進(jìn)了多種工業(yè)試驗(yàn)過(guò)程中的質(zhì)量，安全性，速度和性能價(jià)格比。傳統(tǒng)上它被應(yīng)用于機(jī)場(chǎng)的精確快速的行李掃描， 現(xiàn)在這種先進(jìn)的成像技術(shù)被廣泛應(yīng)用于其它的X射線應(yīng)用，例如要求對(duì)材料進(jìn)行非破壞性檢驗(yàn)的場(chǎng)合。復(fù)雜目標(biāo)的內(nèi)部能被快速可靠地分析或者缺陷探測(cè)。從牙齒，骨骼的X射線探測(cè)到汽車以及其搭載的貨物的X射線探測(cè)，這種方法既節(jié)約了時(shí)間、金錢，又沒(méi)有被破壞的后果，保證了質(zhì)量。我們提供多種光電探測(cè)器陣列，滿足設(shè)計(jì)者和儀器制造商，開(kāi)發(fā)和制造最具有競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的產(chǎn)品。

這種光電探測(cè)器陣列,稱為非晶硅平板X-Ray探測(cè)器(XRD), 是基于一個(gè)兩維非晶硅光電管傳感器陣列的X-射線照相機(jī)，應(yīng)用于醫(yī)療、工業(yè)和科學(xué)研究的數(shù)字成像。它非常適合執(zhí)行數(shù)字成像采集,包括X-射線互鎖的所有的驅(qū)動(dòng)和數(shù)據(jù)讀出處理電路，X-射線轉(zhuǎn)換成光信號(hào)，被數(shù)字化為16 bit (65,536 灰度級(jí))。

一. XRD0840 和XRD512-400是基于8 x 8英寸的非晶硅底層的探測(cè)器.

XRD 0840 系列具有400 μm分辨率，512 x 512 像數(shù),形成262,144 個(gè)離散的像元，分布在204.8 x 204.8 mm2的有效面積上，基本的幀速是7.4fps。XRD 0840系列提供各種不同的構(gòu)造，X-ray能量從40 keV 直到 200 keV，滿足用戶各種工業(yè)成像應(yīng)用要求.

XRD 512-400 系列具有400 μm分辨率，512 x 512 像數(shù),形成262,144 個(gè)離散的像元，分布在204.8 x 204.8 mm2的有效面積上，基本的幀速是7 fps。XRD 512-400系列提供各種不同的構(gòu)造，X-ray能量從30 keV 直到 15 MeV，允許用戶定制他們專業(yè)的應(yīng)用和X-射線劑量。

二. XRD 16xx系列是基于16 x 16英寸的非晶硅底層的探測(cè)器。

XRD 1620探測(cè)器, 允許用戶收集200um分辨率，2048x 2048像數(shù)，形成4,194,304 262 個(gè)離散的像元，分布在409.6 x 409.6的有效面積上的成像數(shù)據(jù)。

XRD 1640AL1探測(cè)器是具有400 μm分辨率，262,144 個(gè)離散的像數(shù)，1024 x 1024 像數(shù)，形成1,048,576個(gè)離散的像元，分布在409.6 x 409.6 mm2的有效面積上的照相機(jī)，基本的幀速是3 fps。XRD 1640 AL1 的獨(dú)特設(shè)計(jì)允許用戶應(yīng)用的X-R ay能量從30 keV 到 15 MeV。

特殊版本的XRD 1680，允許用戶收集800um分辨率，512 x 512像數(shù)，形成262,144 個(gè)離散的像元，分布在409.6 x 409.6的有效面積上的成像。較低的分辨率非常適合執(zhí)行3維圖像重建應(yīng)用。

三. 特點(diǎn)：

? 自包含數(shù)字成像

? 單片傳感器

? 百萬(wàn)像數(shù)分辨率

? 像數(shù)分辨率 200 μm、 400 μm ，800 μm

? 超過(guò) 65,000 漸變灰度

? 超高靈敏度

? 電子快門

? 活動(dòng)圖像 @ 3fps 和 7fps

? 兼容所有的圖像處理軟件

? 兼容所有的Windows PC 后者PC 插槽。

四. 典型應(yīng)用：

? 便攜式X-射線照相

? 密度計(jì)量

? PCB 檢測(cè)

? 管道檢測(cè),X射線探傷

? 無(wú)損檢驗(yàn)

? 安檢成像

? X射線醫(yī)學(xué)

? 異質(zhì)材料探測(cè)

? 產(chǎn)品檢驗(yàn)和食品檢查