- 您現在的位置：買賣IC網 > PDF目錄22017 > EP1K50FC484-3N (Altera)IC ACEX 1K FPGA 50K 484-FBGA PDF資料下載
參數資料
| 型號： | EP1K50FC484-3N |
| 廠商： | Altera |
| 文件頁數： | 37/86頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC ACEX 1K FPGA 50K 484-FBGA |
| 產品培訓模塊： | Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs |
| 標準包裝： | 60 |
| 系列： | ACEX-1K® |
| LAB/CLB數： | 360 |
| 邏輯元件/單元數： | 2880 |
| RAM 位總計： | 40960 |
| 輸入/輸出數： | 249 |
| 門數： | 199000 |
| 電源電壓： | 2.375 V ~ 2.625 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 70°C |
| 封裝/外殼： | 484-BGA |
| 供應商設備封裝： | 484-FBGA（23x23） |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁當前第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁
42
Altera Corporation
ACEX 1K Programmable Logic Device Family Data Sheet
IEEE Std.
1149.1 (JTAG)
Boundary-Scan
Support
All ACEX 1K devices provide JTAG BST circuitry that complies with the
IEEE Std. 1149.1-1990 specification. ACEX 1K devices can also be
configured using the JTAG pins through the ByteBlasterMV or BitBlaster
download cable, or via hardware that uses the JamTM Standard Test and
Programming Language (STAPL), JEDEC standard JESD-71. JTAG
boundary-scan testing can be performed before or after configuration, but
not during configuration. ACEX 1K devices support the JTAG
instructions shown in Table 14.
The instruction register length of ACEX 1K devices is 10 bits. The
USERCODE register length in ACEX 1K devices is 32 bits; 7 bits are
show the boundary-scan register length and device IDCODE information
for ACEX 1K devices.
Table 14. ACEX 1K JTAG Instructions
JTAG Instruction
Description
SAMPLE/PRELOAD
Allows a snapshot of signals at the device pins to be captured and examined during
normal device operation and permits an initial data pattern to be output at the device
pins.
EXTEST
Allows the external circuitry and board-level interconnections to be tested by forcing a
test pattern at the output pins and capturing test results at the input pins.
BYPASS
Places the 1-bit bypass register between the TDI and TDO pins, allowing the BST data
to pass synchronously through a selected device to adjacent devices during normal
operation.
USERCODE
Selects the user electronic signature (USERCODE) register and places it between the
TDI
and TDO pins, allowing the USERCODE to be serially shifted out of TDO.
IDCODE
Selects the IDCODE register and places it between TDI and TDO, allowing the IDCODE
to be serially shifted out of TDO.
ICR Instructions
These instructions are used when configuring an ACEX 1K device via JTAG ports using
a MasterBlaster, ByteBlasterMV, or BitBlaster download cable, or a Jam File (.jam) or
Jam Byte-Code File (.jbc) via an embedded processor.
Table 15. ACEX 1K Boundary-Scan Register Length
Device
Boundary-Scan Register Length
EP1K10
438
EP1K30
690
EP1K50
798
EP1K100
1,050
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| ADT7485AARMZ-REEL7 | IC TEMP/VOLT DGL SENS SST 10MSOP |
| EP1K50FC484-3 | IC ACEX 1K FPGA 50K 484-FBGA |
| REC3-0509SRW/H/B/M | CONV DC/DC 3W 4.5-9VIN 09VOUT |
| TPSC157M004R0080 | CAP TANT 150UF 4V 20% 2312 |
| ABE35DHFR | CONN CARDEDGE 70POS 1MM SMD |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
| EP1K50FI256-1DX | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EP1K50FI256-1F | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EP1K50FI256-1P | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EP1K50FI256-1X | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EP1K50FI256-2 | 功能描述:FPGA - 現場可編程門陣列 FPGA - ACEX 1K 360 LABs 186 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數量: 邏輯塊數量:943 內嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
發布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復。