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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | EP2S15F484C5N |
| 廠商： | Altera |
| 文件頁數(shù)： | 30/768頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC STRATIX II FPGA 15K 484-FBGA |
| 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： | Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 20 |
| 系列： | Stratix® II |
| LAB/CLB數(shù)： | 780 |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 15600 |
| RAM 位總計(jì)： | 419328 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 342 |
| 電源電壓： | 1.15 V ~ 1.25 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 484-BBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 484-FBGA（23x23） |
| 其它名稱： | 544-1876 EP2S15F484C5N-ND |
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Altera Corporation
3–1
May 2007
3. Configuration & Testing
IEEE Std. 1149.1
JTAG Boundary-
Scan Support
All Stratix II devices provide Joint Test Action Group (JTAG)
boundary-scan test (BST) circuitry that complies with the IEEE
Std. 1149.1. JTAG boundary-scan testing can be performed either before
or after, but not during configuration. Stratix II devices can also use the
JTAG port for configuration with the Quartus II software or hardware
using either Jam Files (.jam) or Jam Byte-Code Files (.jbc).
Stratix II devices support IOE I/O standard setting reconfiguration
through the JTAG BST chain. The JTAG chain can update the I/O
standard for all input and output pins any time before or during user
mode through the CONFIG_IO instruction. You can use this capability
for JTAG testing before configuration when some of the Stratix II pins
drive or receive from other devices on the board using voltage-referenced
standards. Because the Stratix II device may not be configured before
JTAG testing, the I/O pins may not be configured for appropriate
electrical standards for chip-to-chip communication. Programming those
I/O standards via JTAG allows you to fully test I/O connections to other
devices.
A device operating in JTAG mode uses four required pins, TDI,TDO, TMS,
and TCK, and one optional pin, TRST. The TCK pin has an internal weak
pull-down resistor, while the TDI,TMS and TRST pins have weak internal
pull-ups. The JTAG input pins are powered by the 3.3-V VCCPD pins. The
TDO output pin is powered by the VCCIO power supply of bank 4.
Stratix II devices also use the JTAG port to monitor the logic operation of
the device with the SignalTap II embedded logic analyzer. Stratix II
devices support the JTAG instructions shown in Table 3–1.
1
Stratix II, Stratix, Cyclone II, and Cyclone devices must be
within the first 17 devices in a JTAG chain. All of these devices
have the same JTAG controller. If any of the Stratix II, Stratix,
Cyclone II, or Cyclone devices are in the 18th of further position,
they fail configuration. This does not affect SignalTap II.
The Stratix II device instruction register length is 10 bits and the
USERCODE
register length is 32 bits. Tables 3–2 and 3–3 show the
boundary-scan register length and device IDCODE information for
Stratix II devices.
SII51003-4.2
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| REC3-4809SRWZ/H/B | CONV DC/DC 3W 18-72VIN 09VOUT |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
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| EP2S15F484I4N | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 342 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EP2S15F672C3 | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 366 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EP2S15F672C3N | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 366 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EP2S15F672C4 | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 366 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
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