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參數資料
| 型號： | EP2S15F484C5N |
| 廠商： | Altera |
| 文件頁數： | 670/768頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC STRATIX II FPGA 15K 484-FBGA |
| 產品培訓模塊： | Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs |
| 標準包裝： | 20 |
| 系列： | Stratix® II |
| LAB/CLB數： | 780 |
| 邏輯元件/單元數： | 15600 |
| RAM 位總計： | 419328 |
| 輸入/輸出數： | 342 |
| 電源電壓： | 1.15 V ~ 1.25 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 484-BBGA |
| 供應商設備封裝： | 484-FBGA（23x23） |
| 其它名稱： | 544-1876 EP2S15F484C5N-ND |
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Altera Corporation
9–9
January 2008
Stratix II Device Handbook, Volume 2
IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Testing for Stratix II and Stratix II GX Devices
Figure 9–5. IEEE Std. 1149.1 TAP Controller State Machine
When the TAP controller is in the TEST_LOGIC/RESET state, the BST
circuitry is disabled, the device is in normal operation, and the instruction
register is initialized with IDCODE as the initial instruction. At device
power-up, the TAP controller starts in this TEST_LOGIC/RESET state. In
addition, forcing the TAP controller to the TEST_LOGIC/RESET state is
done by holding TMS high for five TCK clock cycles or by holding the
TRST
pin low. Once in the TEST_LOGIC/RESET state, the TAP controller
remains in this state as long as TMS is held high (while TCK is clocked) or
TRST
is held low.
SELECT_DR_SCAN
CAPTURE_DR
SHIFT_DR
EXIT1_DR
PAUSE_DR
EXIT2_DR
UPDATE_DR
SHIFT_IR
EXIT1_IR
PAUSE_IR
EXIT2_IR
UPDATE_IR
TMS = 0
TMS = 1
TMS = 0
TMS = 1
TMS = 0
TMS = 1
TMS = 0
TMS = 1
TMS = 0
TMS = 1
TMS = 0
TMS = 1
TMS = 0
TMS = 1
TMS = 0
TMS = 1
TMS = 0
RUN_TEST/
IDLE
TMS = 0
TEST_LOGIC/
RESET
TMS = 1
TMS = 0
TMS = 1
CAPTURE_IR
SELECT_IR_SCAN
相關PDF資料 |
PDF描述 |
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| EP2S15F672C3N | 功能描述:FPGA - 現場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 366 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數量: 邏輯塊數量:943 內嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
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