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參數資料
| 型號： | EP2S15F484C5N |
| 廠商： | Altera |
| 文件頁數： | 598/768頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC STRATIX II FPGA 15K 484-FBGA |
| 產品培訓模塊： | Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs |
| 標準包裝： | 20 |
| 系列： | Stratix® II |
| LAB/CLB數： | 780 |
| 邏輯元件/單元數： | 15600 |
| RAM 位總計： | 419328 |
| 輸入/輸出數： | 342 |
| 電源電壓： | 1.15 V ~ 1.25 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 484-BBGA |
| 供應商設備封裝： | 484-FBGA（23x23） |
| 其它名稱： | 544-1876 EP2S15F484C5N-ND |
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Altera Corporation
7–85
January 2008
Stratix II Device Handbook, Volume 2
Configuring Stratix II and Stratix II GX Devices
f
For recommendations on how to connect a JTAG chain with multiple
voltages across the devices in the chain, refer to the IEEE 1149.1 (JTAG)
volume 2 of the Stratix II Device Handbook or the IEEE 1149.1 (JTAG)
volume 2 of the Stratix II GX Device Handbook.
During JTAG configuration, data can be downloaded to the device on the
PCB through the USB Blaster, MasterBlaster, ByteBlaster II, or
ByteBlasterMV download cable. Configuring devices through a cable is
similar to programming devices in-system, except the TRST pin should be
connected to VCC. This ensures that the TAP controller is not reset.
Figure 7–35 shows JTAG configuration of a single Stratix II or
Stratix II GX device.
Table 7–19. Dedicated JTAG Pins
Pin Name
Pin Type
Description
TDI
Test data input
Serial input pin for instructions as well as test and programming data. Data is
shifted in on the rising edge of TCK. If the JTAG interface is not required on the
board, the JTAG circuitry can be disabled by connecting this pin to VCC.
TDO
Test data output
Serial data output pin for instructions as well as test and programming data. Data
is shifted out on the falling edge of TCK. The pin is tri-stated if data is not being
shifted out of the device. If the JTAG circuitry is not used, leave the TDO pin
unconnected.
TMS
Test mode select Input pin that provides the control signal to determine the transitions of the TAP
controller state machine. Transitions within the state machine occur on the rising
edge of TCK. Therefore, TMS must be set up before the rising edge of TCK. TMS
is evaluated on the rising edge of TCK. If the JTAG interface is not required on
the board, the JTAG circuitry can be disabled by connecting this pin to VCC.
TCK
Test clock input
The clock input to the BST circuitry. Some operations occur at the rising edge,
while others occur at the falling edge. If the JTAG interface is not required on the
board, the JTAG circuitry can be disabled by connecting this pin to GND.
TRST
Test reset input
(optional)
Active-low input to asynchronously reset the boundary-scan circuit. The TRST
pin is optional according to IEEE Std. 1149.1. If the JTAG interface is not required
on the board, the JTAG circuitry can be disabled by connecting this pin to GND.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| REC3-4809SRWZ/H/B | CONV DC/DC 3W 18-72VIN 09VOUT |
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相關代理商/技術參數 |
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| EP2S15F672C3N | 功能描述:FPGA - 現場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 366 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數量: 邏輯塊數量:943 內嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
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