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參數資料
| 型號： | EP2S15F484C5N |
| 廠商： | Altera |
| 文件頁數： | 676/768頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC STRATIX II FPGA 15K 484-FBGA |
| 產品培訓模塊： | Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs |
| 標準包裝： | 20 |
| 系列： | Stratix® II |
| LAB/CLB數： | 780 |
| 邏輯元件/單元數： | 15600 |
| RAM 位總計： | 419328 |
| 輸入/輸出數： | 342 |
| 電源電壓： | 1.15 V ~ 1.25 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 484-BBGA |
| 供應商設備封裝： | 484-FBGA（23x23） |
| 其它名稱： | 544-1876 EP2S15F484C5N-ND |
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Altera Corporation
9–15
January 2008
Stratix II Device Handbook, Volume 2
IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Testing for Stratix II and Stratix II GX Devices
EXTEST
selects data differently than SAMPLE/PRELOAD. EXTEST chooses
data from the update registers as the source of the output and output
enable signals. Once the EXTEST instruction code is entered, the
multiplexers select the update register data. Thus, data stored in these
registers from a previous EXTEST or SAMPLE/PRELOAD test cycle can be
forced onto the pin signals. In the capture phase, the results of this test
data are stored in the capture registers and then shifted out of TDO during
the shift phase. New test data can then be stored in the update registers
during the update phase.
The EXTEST waveform diagram in Figure 9–11 resembles the
SAMPLE/PRELOAD
waveform diagram, except for the instruction code.
The data shifted out of TDO consists of the data that was present in the
capture registers after the capture phase. New test data shifted into the
TDI
pin appears at the TDO pin after being clocked through the entire
boundary-scan register.
Figure 9–11. EXTEST Shift Data Register Waveforms
BYPASS Instruction Mode
The BYPASS mode is activated when an instruction code of all ones is
loaded in the instruction register. The waveforms in Figure 9–12 show
how scan data passes through a device once the TAP controller is in the
SHIFT_DR
state. In this state, data signals are clocked into the bypass
register from TDI on the rising edge of TCK and out of TDO on the falling
edge of the same clock pulse.
Data stored in
boundary-scan
register is shifted
out of TDO.
After boundary-scan
register data has been
shifted out, data
entered into TDI will
shift out of TDO.
UPDATE_IR
SHIFT_DR
EXIT1_DR
SELECT_DR
CAPTURE_DR
EXIT1_IR
UPDATE_DR
SHIFT_IR
Instruction Code
TCK
TMS
TDI
TDO
TAP_STATE
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| REC3-4809SRWZ/H/B | CONV DC/DC 3W 18-72VIN 09VOUT |
| EPF10K40RC240-4 | IC FLEX 10K FPGA 40K 240-RQFP |
| TPSD227K006S0100 | CAP TANT 220UF 6.3V 10% 2917 |
| HAZ331MBABRBKR | CAP CER 330PF 1KV 20% RADIAL |
| NCP1086ST-33T3G | IC REG LDO 3.3V 1.5A SOT223 |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
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| EP2S15F672C3 | 功能描述:FPGA - 現場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 366 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數量: 邏輯塊數量:943 內嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EP2S15F672C3N | 功能描述:FPGA - 現場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 366 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數量: 邏輯塊數量:943 內嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EP2S15F672C4 | 功能描述:FPGA - 現場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 366 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數量: 邏輯塊數量:943 內嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
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